-混用上升下降沿会对scanchain造成什么样的影响,能否具体解释一下;
-如果代码在逻辑上必须用下降沿采样,怎样才能满足后端的要求(用上升沿采样),有无变通方法;
我的代码
我在上面提到了上升沿和下降沿混用,其实是表述不正确。不是混用,而是在代码中有些寄存器用posedge,有些则用negedge,对同一个寄存器同时使用两个边沿的情况没有。,我的代码是这样的情况,比如
always@(posedgei_clkornegedgei_rst_n)begin
....//reg1
end
always@(negedgei_clkornegedgei_rst_n)begin
....//reg2
end
对于这样的情况,后端部门也建议尽量避免,也就是说所有寄存器全都采用上升沿,要怎么处理呢?
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用下降沿采样的话
dft_drc会认为该寄存器有violation
因此不把他放到chain里边
所以覆盖率会降低